Baujahr 2005
- analoge Hawk-Eye Lotpasteninspektion
- 2D-Inspeltion Basic Board und Stencil
- blaue Vakuum-Siebunterseitenreinigung 300 mm
- DEK VF25 Vakuum-Saugeinheit
- ASM - justierbare Siebrahmenaufnahme
- On-Top MMI
- Grid-Lok Software-Freischaltung
- optional mit Grid-Lok System
- regelmäßig jährlich gewartet
- sofort produktionsbereit
- Ausricht-Wiederholgenauigkeit: Cpk > 1,66 @ ± 25 µm
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